عنوان
ژژژتعيين ريز ساختار مواد نانو كريستال به روش ريتولد و تابع توزيع لوگ نرمال با استفاده از تابش سينكروترون
نويسنده اصلي
مريم سليميان
مقطع تحصيلي
كارشناسي ارشد
چكيده
چكيده
اندازه بلوركهاي تشكيل دهنده ماده و وجود عيب و نقص در شبكه بلوري موجب پيدايش خواص بي
نظيري در نانو كريستالها مي شود.ميانگين اندازه بلوركها،كرنش شبكه و توزيع اندازه بلوركها، پارامترهاي مهمي
در تعيين خصوصيات فيزيكي نانو مواد هستند.در اين پژوهش، با استفاده از داد ههاي پراش سينكروترون و روش
پالايش و ازنتايج ب هدست آمده، ريز ساختار نمونۀ بلوري تعيين گرديد. CeO ريتولد ساختار نمونۀ نانومتري 2
6 به دست آمد. سپس با استفاده از تابع ×10 - 225 و ميانگين كرنش شبكه 5 Å ميانگين اندازة حجمي بلورك ها
توزيع لوگ نرمالِ اندازة بلورك ها، نقش پراش، شبيه سازي شد و اطلاعات ريزساختاري آن استخراج گرديد.
234 به دست آمد. Å 168 و ميانگين اندازة حجمي بلورك ها Å ميانگين اندازة سطحي بلورك ها
روش ريتولد، توزيع لوگ نرمال. ، CeO واژه هاي كليدي: تابش سينكروترون، ريز ساختار ،نانو كريستال
شماره ركورد
180592
دانشگاه
دانشگاه علم و صنعت ايران
رشته تحصيلي
فيزيك
استاد راهنما
دكترسيد روح ا... عقدايي